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                X熒光光譜儀的礦石檢測前處理

                發布時間:2022-11-09 09:09:09         點擊:63

                       X熒光光譜儀的檢測,可針對礦石品位做針對性的分析檢測,為獲取有效的分析數據,對礦石樣品需要做前處理。將整塊的礦石粉碎處理,并將礦石粉末壓制成片。

                       礦石的粉碎處理,可用瑪瑙或碳化鎢研缽人工研磨,現在較多使用機械振動磨或球磨機,效率很高。一般樣品均可粉碎至74μm以下(通過200目篩子)。隨著粉碎時間的延長,顆粒度減小到一定程度不再變細,如果繼續粉碎,反而會發生“團聚”現象。要提高粉碎效率,可以加入固體或液體助磨劑。粉碎時間越長,粉碎容器帶來的污染越嚴重,因此,選擇一種合適的粉碎容器很重要。要比較這種污染,可以分析一種很硬的物質(如石英)經粉碎后的污染情況,或對比兩種不同粉碎方法的分析結果。在分析痕量元素時,為了提高分析的靈敏度和準確度,這是非常必要的。還有一種污染,是不同粉碎試樣間的相互污染。每次粉碎后都要保證容器清洗干凈,當樣品量較多時,粉碎前可用少量樣品預“清洗”兩次。

                礦石樣品的前處理重要性

                礦石樣品的前處理重要性

                       在將樣品粉碎處理后,就需要采用壓片處理。壓樣設備常見的有手動或電動液壓機,粉末樣品裝入鋁杯或鋁環(或塑料環)中,在相應的模具中加壓成型。在真空光譜儀中,粉末壓片可能會含有空氣或其它氣體而發生濺射,既破壞了試樣表面,又污染了樣品室??上仍谡婵罩袎褐瞥蓧K,或在氦氣光路中測量。為了減少壓入片內空氣的量,在裝樣時可輕拍樣品,加壓時要逐步增大壓力,同時還要保壓一定的時間。

                       X熒光光譜儀分析是一種表面分析,尤其對于輕元素,分析時有效層厚度只有幾個至十幾個μm,表面的污染是致命的問題,同時還要求表面平滑。所以每次壓片后都要把模具的表面洗凈,隔一段時間還要對塞柱表面(對應于樣片被測面)適當拋光。試樣在保存過程中也要防止表面污染、表面破損、吸潮、氧化、吸附空氣等。壓片后盡快測量,對于標樣、管理樣等需長期保存的試樣,以粉末狀態密封保存較好,需要時臨時壓片。

                       礦石樣品的前處理,是作為X熒光光譜儀分析的重要步驟,注意粉碎及壓樣的過程,將為你獲取更穩定的檢測數據。
                 

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